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單粒細(xì)顆粒破碎力檢測技術(shù)

發(fā)布時間:2021-07-07 點擊量:866

單粒細(xì)顆粒破碎力檢測技術(shù)

NS-A系列細(xì)顆粒破碎力測量儀是一種通過壓頭對細(xì)顆粒和顆粒加壓,可以直接測量破碎時非常微弱的力的設(shè)備。可測量的負(fù)載為 10nN。通過更換檢測傳感器,可以測量高達(dá) 9 位至 10N 的各種微小力。在顆粒硬度(強(qiáng)度)和顆粒硬度(強(qiáng)度)的測量中,我們實現(xiàn)了易用性和測量精度。

- 可以測量用戶的任何顆粒的破碎力(強(qiáng)度)。
-通過更換傳感器,可以測量從 10nN 到 10N 的寬范圍。
? 可測量最大 3 μm 的顆粒。
- 溫控臺(可選)可控制臺溫高達(dá)150°C。
-高性能隔振臺(選件)可實現(xiàn)高精度測量,并*抑制測量噪音。

 

適用于以下評價

?顆粒粉碎特性的測量
?調(diào)色劑溫度依賴性顆粒強(qiáng)度變化的測量
?原材料粉末的質(zhì)量控制?原材料選擇評估
?電池材料強(qiáng)度測量
?顆粒涂膜評估

? 一種墨粉顆粒強(qiáng)度的測量

? 薄膜強(qiáng)度的測定

NS-A系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格

待測樣品

3 微米至 1 毫米 

可測量負(fù)載范圍

10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN

測量壓縮速度

100 納米/秒至 50 微米/秒

圖像捕捉

3CCD攝錄一體機(jī)

溫控臺

常溫~150℃

高性能隔振臺

垂直 0.5Hz(可選)

尺寸/重量 

身體

450W x 500H x 450D (20kg)

控制器

320W x 250H x 350D (10kg)

電源供應(yīng)

AC100V 3A