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日本檢查燈185le與YP-150I的檢測(cè)差別

發(fā)布時(shí)間:2022-04-22 點(diǎn)擊量:841

日本檢查燈185le與YP-150I的檢測(cè)差別

185le

 

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片),觸摸屏制造等行業(yè)。

標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成如下。

光源:直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素?zé)?/p>

冷卻方式:強(qiáng)制空冷

電源電圧:AC 95V~AC 260V,50/60Hz

尺寸:光源 136mm H×112mm W×150mm D

重量:光源2.3kg

立桿5.0kg 

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)。

高照度照明設(shè)備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業(yè)。

  

大照度

照射距離 310mm、 照射直徑徑 55mmφ 時(shí)照度在 400,000 Lux以上)

光源

直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素?zé)?/span>

照度調(diào)整

連續(xù)可調(diào)至大照度 20%

冷卻方式

強(qiáng)制空冷

使用溫度范囲

0 ~ 40

電源電圧

AC 95V ~ AC 260V, 50/60Hz

功率

250W

尺寸

光源

136mm H × 112mm W × 150mm D

電源

229mm H × 90mm W × 250mm D

重量

光源

2.3kg

電源

3.6kg

立桿

5.0kg


半導(dǎo)體晶圓的加工用高亮度鹵素光源裝置-YP-150I/YP-250I

    

高亮度鹵素光源設(shè)備是 一種宏觀觀察照明設(shè)備,用于檢測(cè)各種缺陷,
例如異物,劃痕,拋光不均勻,霧度和最終成品表面上的打滑,這在半導(dǎo)體晶圓的加工過(guò)程中是最費(fèi)力的工作和液晶基板.

概述

  1.樣品表面的照明度可達(dá)到400,000 Lx以上。

  2.由于使用鹵素?zé)糇鳛楣庠?,因此色溫高,幾乎沒有不均勻的照明,并且照明
    非常穩(wěn)定且清晰。

  3.通過(guò)使用冷鏡,可以將熱量的影響極大地
    降低到傳統(tǒng)鋁鏡的1/3 

  4.兩階段切換機(jī)制使您可以通過(guò)一次觸摸在高光觀察和低光觀察之間進(jìn)行切換
    。
    YP-150I ? ? ?照度范圍φ30YP-250I ? ?
    ?照度范圍φ60
   ?。╕P-250I可以從螺旋槳式風(fēng)扇和風(fēng)管式風(fēng)扇中選擇)。

標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成如下。

照度:照射距離 310mm、照射直徑徑 55mmφ時(shí)照度在 400,000 Lux以上)

光源:直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素?zé)?/p>

照度調(diào)整:連續(xù)可調(diào)至照度的 20%

冷卻方式:強(qiáng)制空冷

使用溫度范囲:0~40℃

電源電圧:AC 95V~AC 260V,50/60Hz

功率:250W

尺寸:光源 136mm H×112mm W×150mm D

電源 229mm H×90mm W×250mm D

重量:光源2.3kg

電源3.6kg

立桿5.0kg